一、校准前准备工作
便携式红外光谱仪状态检查
提前开机预热 10–15 分钟，让光源、检测器温度稳定；检查电池电量充足，避免校准中途断电导致数据失效。清理检测窗口，用无尘布蘸无水乙醇擦拭镜片，去除粉尘、油污、指纹，防止杂峰干扰校准曲线。
环境条件控制
现场尽量避开强光、高温、水汽、粉尘环境；高湿度环境需等待仪器内部除湿完成再校准，水蒸气吸收峰易造成基线漂移。远离热源、震动源，手持放置平稳后再操作。
标准物质准备
配齐仪器配套校准标准片(聚苯乙烯标准膜、金刚石参比片等)，确认标准片表面洁净无划痕、无氧化污染，破损标准件禁止用于校准。
二、背景基线校准(每日必做)
清空检测窗口，无任何样品遮挡，保证光路通畅。
在仪器操作界面选择「采集背景 / 空白校准」，等待设备完成一次全波段光谱采集并保存基线。
更换检测环境、连续使用 2 小时以上、温差变化大时，必须重新采集背景；背景漂移会直接造成物质识别、峰位偏移误差。
若现场有恒定干扰介质(如水、二氧化碳)，可多次采集背景取平均，弱化环境吸收干扰。
三、聚苯乙烯标准膜峰位校准(核心光谱校准)
将洁净聚苯乙烯标准膜平整贴合检测窗口，无气泡、缝隙。
执行标准样品扫描，记录特征吸收峰波数位置，对比标准理论峰位。
若峰位出现偏移，进入仪器校准程序进行波数修正；偏移超差会导致样品定性判定错误。
校准完成后复测标准膜，各特征峰误差在允许范围内才算校准合格，不合格重复校正流程。
四、透射 / 反射模式分模式校准
透射检测模式
使用标准聚苯乙烯薄膜校准峰位与吸光度，校准吸光度线性，避免厚薄样品检测偏差。
漫反射 / ATR 衰减全反射模式
采用金刚石、碳化硅参比块做反射基线校准；针对固体粉末、塑料、橡胶样品统一反射基准，消除窗口材质带来的基线倾斜。
切换检测模式后，必须单独重新做背景校准，不同模式光路参数不通用。
五、现场快速核查校准(户外巡检适用)
无标准片现场：选取已知纯物质(纯水、无水乙醇、纯塑料)扫描光谱，与标准谱图库比对，粗略判断光谱是否偏移。
对比历史合格图谱：调取同物质存档光谱，查看峰形、峰位、基线是否一致，出现明显差异需回实验室完整校准。
多点位比对：同一标准件多点扫描，确认重复性，排查窗口松动、光路偏移问题。
六、定期深度校准周期规范
日常使用：每日开工做背景基线校准；
常规校准：每周用聚苯乙烯标准膜校准波数；
深度计量校准：每半年或一年联系厂家 / 第三方计量机构整机校准，出具校准报告；
触发强制校准场景：仪器磕碰摔落、更换光源、更换检测器、长期停用重启、维修光路后，立即全套校准。
七、校准后留存与数据管理
保存本次校准背景光谱、标准膜校准图谱，标注校准时间、环境温湿度。
建立校准台账，记录每次校准结果、是否合格、操作人员。
校准不合格仪器禁止用于样品检测，排查镜片、光源故障后重新校准。
八、校准常见问题处理
基线倾斜、噪声大：镜片脏污、环境湿度高，清洁镜头并除湿后重校；
峰位持续偏移：光源老化、光路松动，联系售后检修；
标准图谱杂峰多：标准片污染或存在气泡，更换洁净标准膜复测。
更新时间：2026-06-22
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